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超低頻率介電常數(shù)測試儀

來源:技術(shù)文章    更新時(shí)間:2018-05-16    瀏覽:2821次

超低頻率介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz1MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (Dtanδ)變化的測試。

 

超低頻率介電常數(shù)測試儀中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

 

高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF6D值顯示,保證了εD值精度和重復(fù)性。 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1105

 

 

 

 

 

超低頻率介電常數(shù)測試儀主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 εD性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz1MHzεD變化的測試。

2.1.2 εD測量范圍:ε:1~105,D0.10.00005

2.1.3 εD測量精度(10kHz):ε±2% , D±5%±0.0001。

 

頻率范圍:20Hz~1MHz 數(shù)字合成,

精度:±0.02%

電容測量范圍:0.00001pF9.99999F 六位數(shù)顯

電容測量基本誤差:±0.05%

損耗因素D值范圍:0.00001~9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測試裝置(含保護(hù)電極): 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極,能對直徑φ1056mm,厚度<10mm的試樣測量。

它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率:10μm

2.4.2 zui高耐壓:±42VpAC+DC

2.4.3 電纜長度設(shè)置:1m

2.4.4 zui高使用頻率:30MHz 

 

 

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