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介電常數(shù)測(cè)試儀新參數(shù)

來(lái)源：技術(shù)文章更新時(shí)間：2015-02-02 瀏覽：1900次

介電常數(shù)測(cè)試儀工作特性

1．Q值測(cè)量

a．Q值測(cè)量范圍：2～1023；

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

c．標(biāo)稱(chēng)誤差

	A	C
頻率范圍	25kHz～10MHz	100kHz～10MHz
固有誤差	≤5％±滿度值的2%	≤5％±滿度值的2%
工作誤差	≤7％±滿度值的2%	≤7％±滿度值的2%
頻率范圍	10MHz～60MHz	10MHz～160MHz
固有誤差	≤6％±滿度值的2%	≤6％±滿度值的2%
工作誤差	≤8％±滿度值的2%	≤8％±滿度值的2%

2．電感測(cè)量范圍

A	C
14.5nH～8.14H	4.5nH～140mH

3．電容測(cè)量

	A	C
直接測(cè)量范圍	1～460p	1～205p
主電容調(diào)節(jié)范圍	40～500pF	18～220pF
準(zhǔn)確度	150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%	150pF以下±1.5pF 150pF以上±1%

注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)使用方法。

4．信號(hào)源頻率覆蓋范圍

	A	C
頻率范圍	10kHz～60MHz	0.1～160MHz
CH1	10～99.9999kHz	0.1～0.999999MHz
CH2	100～999.999kHz	1～9.99999MHz
CH3	1～9.99999MHz	10～99.9999MHz
CH4	10～60MHz	100～160MHz
頻率指示誤差	3×10-5±1個(gè)字

5．Q合格指示預(yù)置功能：預(yù)置范圍：5～1000

6．Q表正常工作條件

a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

b．相對(duì)濕度：<80％；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。

高頻介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由BH916測(cè)試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的*解決方案。

1、《BH916介質(zhì)損耗裝置》(測(cè)試夾具)是測(cè)試系統(tǒng)的核心檢測(cè)部件，它由一個(gè)LCD數(shù)字顯示的微測(cè)量裝置和一對(duì)經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測(cè)材料樣品，微測(cè)量裝置則顯示被測(cè)材料樣品的厚度。通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的Q值變化的量化，測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，精密的加工設(shè)計(jì)、的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能，克服了機(jī)械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測(cè)量誤差。

2、基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測(cè)試系統(tǒng)的二次儀表，其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設(shè)計(jì)代表了行業(yè)的zui高成就，隨之帶來(lái)了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機(jī)界面，采用LCD液晶屏顯示各測(cè)量因子：Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測(cè)試頻率F、諧振趨勢(shì)指針等。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測(cè)試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達(dá)1×10^-6。國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來(lái)測(cè)定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)，把被測(cè)材料作為平板電容的介質(zhì)，與輔助電感等構(gòu)成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測(cè)試回路，以獲取zui高的測(cè)試靈敏度。因而Q表法的測(cè)試結(jié)果更真實(shí)地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。

　　 GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機(jī)控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測(cè)Q值甚至tanδ，無(wú)須關(guān)注量程和換算，*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴(lài)面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無(wú)疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測(cè)量的理想工具。

3、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入GDAT)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計(jì)算的微處理化，tanδ 測(cè)量結(jié)果的獲得無(wú)須繁瑣的人工處理，因而提高了數(shù)據(jù)的度和測(cè)量的同一性，是人工讀值和人工計(jì)算*的。

4、一個(gè)高品質(zhì)因數(shù)（Q)的電感器是測(cè)量系統(tǒng)*的輔助工具，關(guān)乎測(cè)試的靈敏度和精度，在系統(tǒng)中它與平板電容（BH916）構(gòu)成了基于串聯(lián)諧振的測(cè)試回路。本系統(tǒng)推薦的電感器為LKI-1電感

附表一,介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表

BH916測(cè)試裝置

GDAT高頻Q表

平板電容極片

Φ50mm/Φ38mm可選

頻率范圍

20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

間距可調(diào)范圍

≥15mm

頻率指示誤差

3×10^-5±1個(gè)字

夾具插頭間距

25mm±0.01mm

主電容調(diào)節(jié)范圍

30-500/18-220pF

測(cè)微桿分辨率

0.001mm

主調(diào)電容誤差

<1%或1pF

夾具損耗角正切值

≦4×10^-4 （1MHz)

Q測(cè)試范圍

2～1023

附表二,LKI-1電感組典型測(cè)試數(shù)據(jù)

線圈號(hào)	測(cè)試頻率	Q值	分布電容p	電感值
9	100KHz	98	9.4	25mH
8	400KHz	138	11.4	4.87mH
7	400KHz	202	16	0.99mH
6	1MHz	196	13	252μH
5	2MHz	198	8.7	49.8μH
4	4.5MHz	231	7	10μH
3	12MHz	193	6.9	2.49μH
2	12MHz	229	6.4	0.508μH
1	25MHz 50MHz	233 211	0.9	0.125μH

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