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北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司
品質(zhì)是生命,服務(wù)是宗旨

Quality is life, service is the tenet

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工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 介電常數(shù)測試儀

發(fā)布時間:  2024-08-12

產(chǎn)品型號:  GDAT-C

產(chǎn)品報價:  

廠商性質(zhì):  生產(chǎn)廠家

所  在  地:  北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號

產(chǎn)品特點:  滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

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產(chǎn)品概述

滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法 

  主要技術(shù)特性  
Q 值測量范圍  2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔  
固有誤差  ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作誤差  ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  

電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH 
電容直接測量范圍1 ~ 200pF 
主電容調(diào)節(jié)范圍    18 ~ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準確度100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ~ 160MHz  
頻率分段 ( 虛擬 ) 

100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,

10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz  

頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設(shè)定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用

BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套,可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)。

BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品,它采用了數(shù)顯微測量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據(jù)精確。

BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性 :

平板電容器:極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調(diào)范圍: ≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm 
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm

電感:
 
線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

 

本儀器測試儀方法如下: 

儀器的測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法,操作時,要避免人體感應(yīng)的影響。
a. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量。
 

b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
 

c. 配上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),           如:1MHz 時電感取250uH,15MHz時電感取1.5uH。
 

d. 短按ON/OFF按鍵,打開液晶顯示屏。
 

e. 調(diào)節(jié)平板電容器測微桿,使平板電容器二極片相接為止,長按SET按鍵將初始值設(shè)置為0。


4.介電常數(shù)Σ的測試


a. 再松開二極片,把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點上。


b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,此時調(diào)節(jié)平板電容器,使Q 表再回到諧振點上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4


c. 計算被測樣品的介電常數(shù):
                         Σ=D2 / D4

5.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。把被測樣品插入二極片之間,改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點上,讀得Q 值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表重新處于諧振點上。讀得Q 值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。


c. 然后取下測試裝置,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1


d. 計算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)公式如下:

? ?
?
?
? ?
式中:CZ 為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
                              C0 為測試電感的分布電容(參考LKI-1 電感組的分布電容值)

 

 


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