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高絕緣材料固體體積表面電阻率測(cè)試儀

發(fā)布時(shí)間:  2024-08-14

產(chǎn)品型號(hào):  BEST-121

產(chǎn)品報(bào)價(jià):  

廠商性質(zhì):  生產(chǎn)廠家

所  在  地:  北京市海淀區(qū)上地科技園上地十街1號(hào)

產(chǎn)品特點(diǎn):  高絕緣材料固體體積表面電阻率測(cè)試儀

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產(chǎn)品概述

  

高絕緣材料固體體積表面電阻率測(cè)試儀概述

BEST- 121型高絕緣電阻測(cè)量儀用于測(cè)量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻;與恒溫水浴配套后,還能測(cè)量不同溫度下的塑料電線電纜(無屏蔽層)的絕緣電阻,該儀器具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡單、輸入端高壓短路等優(yōu)點(diǎn),儀器的zui高量程 1018Ω電阻值(測(cè)試電壓為 1000V)。 本儀表貫徹 Q/TPGG 7-2008 高絕緣電阻測(cè)量儀企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

 

 

高絕緣材料固體體積表面電阻率測(cè)試儀主要應(yīng)用范圍

l  材料高阻測(cè)試測(cè)量如防靜電產(chǎn)品(防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等)電阻值的檢測(cè);

材料體電阻(率)和表面電阻(率)測(cè)量;

l  電化學(xué)和材料測(cè)試,以及物理,光學(xué)和材料研究;

l  微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。

 

 

 

同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I,通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算,然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流I的變化而變,所以, 即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大,其測(cè)量精度很高。從理論上講其誤差可以做到零。而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。 

 

 

 

使用注意事項(xiàng)

高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行,否則有可能造成儀器*損壞或電人。

7.1 應(yīng)在“Rx”兩端開路時(shí)調(diào)零(主機(jī)開機(jī))

如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過程中不需再調(diào)零,但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。

7.2 禁止將“Rx”兩端短路,以免微電流放大器受大電流沖擊

7.3 在測(cè)試過程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓,

隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過高或電流過大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器,而且有的材料是非線性的,即電壓與電流是不符合歐姆定律,有改變電壓時(shí)由于電流不是線性變化,所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。

7.4 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔

每撥一次稍停留1~2秒以便觀察顯示數(shù)字,當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下,記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí),表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥,否則有可能損壞儀器(機(jī)內(nèi)有過電流保護(hù)電路)。除104 Ω檔之外,當(dāng)顯示低于1.99,表示過量程應(yīng)換低檔!

7.5 大部分絕緣材料,特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化

由于本儀器的分辯率很高,因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化,這不是儀器本身的問題,而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。

7.6 接通電源后,手指不能觸及高壓線的金屬部分

本儀表有二連根線:高壓線(紅)和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線,開機(jī)后人不能觸及高壓線,以免電人或麻手。

7.7 測(cè)試過程中不能觸摸微電流測(cè)試端

微電流測(cè)試端zui怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開機(jī)后和測(cè)試過程中不能與微電流測(cè)試端接觸,以免損壞儀表。

7.8 在測(cè)量高阻時(shí),應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽.

在測(cè)量大于1010 Ω以上時(shí),為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。

7.9 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開關(guān)撥回“104 ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試

在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開關(guān)撥到高阻檔,測(cè)量完時(shí)應(yīng)將電流電阻量程、電壓量程開關(guān)撥回低檔。以 確保下次開機(jī)時(shí)量程開關(guān)處在低阻量程檔。

 

 

★人體一般可以帶上幾千甚至幾萬伏靜電!

 

 

 

是一臺(tái)能測(cè)量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因?yàn)闄C(jī)器內(nèi)有一個(gè)超高性能的靜電計(jì)放大器,盡管儀器有多種保護(hù)措施,這個(gè)超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過大電流沖擊、過電壓或放電等*損壞或降低其測(cè)量精度與性能。

 

測(cè)試過程

不正確的操作方式

后果

是否閱讀

開機(jī)前

 

 

沒有將電壓撥至10V,電阻電流量程檔撥至104

 

 

過電流沖擊造成儀器放大器過電流而損壞

 

 

 

 

測(cè)試過程

 

 

隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓

 

過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞

 

 

 

 

 

測(cè)試過程

改變屏蔽箱上體面電阻,表面電測(cè)測(cè)試開關(guān)

過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞

 

測(cè)試過程

測(cè)試電壓過高,導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿

過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低

 

測(cè)試過程

微電流測(cè)量線與高壓線短路

過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低

 

測(cè)試完成

 

 

未將電壓量程撥至10V,電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。

 

 

過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測(cè)量性能降低

 

 

 


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